集成電路芯片、分立器件、晶體管等元器件的耐濕性測試
HAST一般稱為高加速溫濕度應(yīng)力試驗或是高加速應(yīng)力試驗。華碧實驗室HAST測試實驗室通過施加嚴(yán)酷的溫度、濕度并提高水汽壓力，水汽通過封裝材料或管腳滲透，用來評價元器件在潮濕環(huán)境中的可靠性，華碧實驗室擁有專業(yè)資質(zhì)、經(jīng)驗豐富的技術(shù)專家團(tuán)隊，同時可根據(jù)客戶的技術(shù)需求，定制推薦合理的測試方案。
服務(wù)背景
電子設(shè)備主要是由電子元器件組成的，因此電子元器件的可靠性直接影響電子設(shè)備可靠性。電子元器件也是屬于比較“脆弱”的一種產(chǎn)品，溫度、濕度、振動、鹽霧等各種環(huán)境應(yīng)力都可能會損傷電子元器件，造成電子設(shè)備的故障失效。根據(jù)大量失效數(shù)據(jù)分析，濕氣引起電子元器件的失效比例占20%左右。
HAST（ Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）： 一般稱為高加速溫濕度應(yīng)力試驗或是高加速應(yīng)力試驗。HAST測試通過施加嚴(yán)酷的溫度、濕度并提高水汽壓力，水汽通過封裝材料或管腳滲透，用來評價元器件在潮濕環(huán)境中的可靠性。
服務(wù)內(nèi)容
一、適用測試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗C：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
JESD22-A110高加速溫濕度應(yīng)力試驗
JESD22-A118加速防潮-無偏置高加速溫濕度應(yīng)力試驗
AEC-Q汽車零部件車規(guī)級標(biāo)準(zhǔn)
二、適用產(chǎn)品范圍
集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機(jī)電元件、傳感器等。
三、常規(guī)樣品要求
請聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或客服，以具體標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
四、測試方法
U-HAST：無偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗，是測試電鍍和直接化學(xué)腐蝕的優(yōu)選方法.
B-HAST：偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗，與溫濕度偏壓試驗（THB）對產(chǎn)品的破壞機(jī)理一致，是THB的加速測試，測試時器件必須以*小的功耗運(yùn)行。
常規(guī)測試條件
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常規(guī)測試條件
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溫度（℃）
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濕度（%RH）
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110
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85
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120*
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85
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130
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85
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*注：120℃/85%RH條件僅標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.40/IEC 60068-66適用
華碧實驗室解決方案
華碧實驗室提供全面的可靠性測試一站式解決方案，包括。
● 環(huán)境測試
● 可靠性測試
● 可靠性設(shè)計
● 可靠性測分析
● 產(chǎn)品評估
● 可靠性培訓(xùn)及咨詢
常見問題
Q1：測試周期需要多久？
正常周期為5-7個工作日（樣品在試驗箱或試驗臺內(nèi)時間除外）。如需加急，請聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或者客服。
Q2：AEC-Q認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中的HAST測試，一般建議的測試條件是什么？
AEC-Q認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中，一般建議130℃/85%RH，96h或110℃/85%RH，264h。根據(jù)樣品的材質(zhì)情況也可以進(jìn)行85℃/85%RH的THB測試。
