集成電路芯片、分立器件、晶體管等元器件的耐濕性測(cè)試
HAST一般稱為高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)或是高加速應(yīng)力試驗(yàn)。華碧實(shí)驗(yàn)室HAST測(cè)試實(shí)驗(yàn)室通過(guò)施加嚴(yán)酷的溫度、濕度并提高水汽壓力，水汽通過(guò)封裝材料或管腳滲透，用來(lái)評(píng)價(jià)元器件在潮濕環(huán)境中的可靠性，華碧實(shí)驗(yàn)室擁有專業(yè)資質(zhì)、經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)，同時(shí)可根據(jù)客戶的技術(shù)需求，定制推薦合理的測(cè)試方案。
服務(wù)背景
電子設(shè)備主要是由電子元器件組成的，因此電子元器件的可靠性直接影響電子設(shè)備可靠性。電子元器件也是屬于比較“脆弱”的一種產(chǎn)品，溫度、濕度、振動(dòng)、鹽霧等各種環(huán)境應(yīng)力都可能會(huì)損傷電子元器件，造成電子設(shè)備的故障失效。根據(jù)大量失效數(shù)據(jù)分析，濕氣引起電子元器件的失效比例占20%左右。
HAST（ Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）： 一般稱為高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)或是高加速應(yīng)力試驗(yàn)。HAST測(cè)試通過(guò)施加嚴(yán)酷的溫度、濕度并提高水汽壓力，水汽通過(guò)封裝材料或管腳滲透，用來(lái)評(píng)價(jià)元器件在潮濕環(huán)境中的可靠性。
服務(wù)內(nèi)容
一、適用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)C：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
JESD22-A110高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)
JESD22-A118加速防潮-無(wú)偏置高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)
AEC-Q汽車零部件車規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)
二、適用產(chǎn)品范圍
集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機(jī)電元件、傳感器等。
三、常規(guī)樣品要求
請(qǐng)聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或客服，以具體標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
四、測(cè)試方法
U-HAST：無(wú)偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)，是測(cè)試電鍍和直接化學(xué)腐蝕的優(yōu)選方法.
B-HAST：偏壓高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)，與溫濕度偏壓試驗(yàn)（THB）對(duì)產(chǎn)品的破壞機(jī)理一致，是THB的加速測(cè)試，測(cè)試時(shí)器件必須以*小的功耗運(yùn)行。
常規(guī)測(cè)試條件
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常規(guī)測(cè)試條件
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溫度（℃）
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濕度（%RH）
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110
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85
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120*
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85
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130
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85
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*注：120℃/85%RH條件僅標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.40/IEC 60068-66適用
華碧實(shí)驗(yàn)室解決方案
華碧實(shí)驗(yàn)室提供全面的可靠性測(cè)試一站式解決方案，包括。
● 環(huán)境測(cè)試
● 可靠性測(cè)試
● 可靠性設(shè)計(jì)
● 可靠性測(cè)分析
● 產(chǎn)品評(píng)估
● 可靠性培訓(xùn)及咨詢
常見問(wèn)題
Q1：測(cè)試周期需要多久？
正常周期為5-7個(gè)工作日（樣品在試驗(yàn)箱或試驗(yàn)臺(tái)內(nèi)時(shí)間除外）。如需加急，請(qǐng)聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或者客服。
Q2：AEC-Q認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中的HAST測(cè)試，一般建議的測(cè)試條件是什么？
AEC-Q認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中，一般建議130℃/85%RH，96h或110℃/85%RH，264h。根據(jù)樣品的材質(zhì)情況也可以進(jìn)行85℃/85%RH的THB測(cè)試。
