華碧實驗室在電子元器件、微電子技術的質量與失效分析方面完成了大量科研任務，為提供領先行業的技術服務積累了厚實的技術基礎。近些年來，隨著企業對電子產品壽命評估、工藝質量改進、產品可靠性增長，為企業提供相關科研技術支撐和實際問題解決方案。
科研對象 Research Objects
| 大規模集成電路 線路板及線路板組件 混合集成電路及多芯片組件 光電器件 微波器件及組件 阻容元器件、繼電器、連接器 RoHS及有害物質控制管理系統 | Integrated Circuit |
| 可靠性物理 失效模式、失效機理及其數理模型 可靠性設計與仿真技術 ESD設計 熱設計有限元仿真 生產過程質量控制技術 SPC、Cpk、PPM、6σ、QCC 失效分析與材料分析技術 FIB、EB、SEM及其分析技術 可靠性測試、評價、試驗技術 先進電子封裝/組裝互連可靠性 高加速應力試驗方法，極限應力試驗方法 電子產品壽命評價 可靠性增長技術 基于失效物理 （PoF）的可靠性增長方案 | Reliability Physics |
| RoHS及有害物質控制管理系統 強大的可靠性數據庫 專業試驗設備研制 | RoHS & Pollution Administration system |
