微電子技術(shù)服務(wù)

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我們的服務(wù)Our Service

聯(lián)系方式

微電子技術(shù)服務(wù)

微電子技術(shù)服務(wù)的優(yōu)勢(shì) Competitive Advantages

專(zhuān)業(yè)的研究隊(duì)伍
嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓ぷ鲬B(tài)度
豐富的理論知識(shí)
長(zhǎng)期的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)

Professional Research Team
Rigorous Working Attitude
Abundant Theoretical Knowledge
Extended Practical Experience

產(chǎn)生的效益 Benefits

先進(jìn)集成電路工藝、版圖結(jié)構(gòu)分析及設(shè)計(jì)驗(yàn)證，增強(qiáng)集成電路設(shè)計(jì)的研發(fā)能力
集成電路生產(chǎn)、封裝和使用全過(guò)程質(zhì)量和可靠性評(píng)價(jià)，提高產(chǎn)品的成品率和可靠性
集成電路可用性分析，保證合適電路應(yīng)用于合適的環(huán)境

服務(wù)內(nèi)容 Services

集成電路測(cè)試、篩選 IC Test / screening

集成電路功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試
集成電路微缺陷分析
集成電路質(zhì)量一致性檢驗(yàn)
集成電路老化、篩選試驗(yàn)
集成電路壽命試驗(yàn)
集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證

Functional Test, Parameter Test
Micro-defect Analysis
Quality Conformance Procedure
Burn-in and Screening Test
Life Test
Design Verification

集成電路可靠性評(píng)估Reliability Evaluation for IC

塑封電路質(zhì)量評(píng)價(jià)
封裝缺陷無(wú)損檢測(cè)及分析
ESD等級(jí)、Latch-up測(cè)試評(píng)價(jià)
IC工藝可靠性測(cè)試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
IC拍照與電路圖翻譯技術(shù)服務(wù)

Quality Evaluation for Plastic Encapsulated Micro-circuit
Non-destructive Test and Analysis for Package Defect
ESD, Latch-up Test
IC Process Control Monitor Design
IC layout reverse design

微電子技術(shù)服務(wù)的優(yōu)勢(shì)

服務(wù)模式

按檢測(cè)項(xiàng)目計(jì)費(fèi)

關(guān)于華碧

華碧介紹

企業(yè)文化

資質(zhì)榮譽(yù)

發(fā)展歷程

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